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光學(xué)膜厚儀 膜厚儀、測(cè)厚儀、干涉儀、厚度測(cè)量?jī)x、 Film Thickness Gauges【利用材料的折射率來計(jì)算的，非接觸式的膜厚測(cè)試儀】
FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準(zhǔn)確同步的厚度測(cè)量及薄膜的折射率一個(gè)廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：
半導(dǎo)體、有機(jī)電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學(xué)傳感……
FR-Scanner系列
聯(lián)系人：鄧經(jīng)理
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