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    顯微分光光度計DUV-VIS-NIR

    簡要描述:顯微分光光度計DUV-VIS-NIR(Micro-Photometer,Micro Spectrophotometer)用于表征在微米區(qū)域內的薄膜,厚涂層的光學特性。顯微分光光度計也稱為微反射計,顯微光譜儀,顯微光度計,顯微光譜光度計等。用戶可實時視頻,強大的數(shù)字編輯,反射測量工具享受顯微光譜儀(MSP系列)的數(shù)字成像功能,透射,吸收光譜,數(shù)據(jù)采集僅需幾毫秒。

    • 產品型號:MSP100/MSP300/MSP500
    • 廠商性質:代理商
    • 更新時間:2024-05-17
    • 訪  問  量:2717

    詳細介紹

    顯微分光光度計DUV-VIS-NIR

    型號:MSP100/MSP300/MSP400/MSP450/MSP500

    顯微分光光度計(Micro-PhotometerMicro Spectrophotometer)用于表征在微米區(qū)域內的薄膜,厚涂層的光學特性。顯微分光光度計也稱為微反射計,顯微光譜儀,顯微光度計,顯微光譜光度計等。用戶可實時視頻,強大的數(shù)字編輯,反射測量工具享受顯微光譜儀(MSP系列)的數(shù)字成像功能,透射,吸收光譜,數(shù)據(jù)采集??僅需幾毫秒。TFProbe軟件允許用戶設置加熱階段或冷卻階段以實時進行動力學研究,以了解光學性質的變化,例如反射率,透射率,涂層厚度,折射率(光學常數(shù))等。在具有電動XY載物臺或Rho-Theta載物臺的各種顯微分光光度計型號中,還提供自動映射功能,以及電動聚焦功能。波長范圍通常是用戶要考慮的重要因素。此顯微分光光度計涵蓋從深紫外線(DUV)到近紅外(NIR)范圍。應該考慮哪個范圍取決于幾個因素,例如薄膜或厚涂層的厚度范圍是多少,反射率或透射率光譜的典型波長范圍是什么等等。顯微分光光度計已用于各個領域,例如納米晶圓廠,法醫(yī),醫(yī)學,MEMSMEOMS,生物,化學等。

     

    我們提供了三種分光光度計的標準配置。MSP100覆蓋2501000nmDUV-Vis)。系統(tǒng)將附帶一個DUV-Vis全范圍物鏡。MSP300的波長范圍為4001000nm,用于可見反射或透射光譜測量。MSP300適用于厚膜厚度測量。MSP500涵蓋從DUVNIR的全范圍(250-1700nm)。可以自定義其他波長范圍或功能以滿足您的應用。

     

    應用范圍:

    半導體制造(PR,氧化物,氮化物..

    液晶顯示器(ITOPR,液晶盒間隙…..

    法醫(yī),生物膜和材料

    油墨,礦物學,顏料,碳粉

    藥品,醫(yī)療器械

    光學涂料,TiO2SiO2Ta2O5..

    半導體化合物

    MEMS / MOEMS中的功能膜

    非晶,納米和晶體硅

    PET上的硬涂層

     

    特征:

    *光學器件和堅固的設計可實現(xiàn)較長的正常運行時間和好的系統(tǒng)性能

    基于陣列的探測器系統(tǒng)可確保快速測量

    價格合理,便攜式且占地面積小的桌面設計

    在微米尺寸區(qū)域內多可測量5層膜的厚度和折射率

    允許以毫秒為單位獲取反射,透射和吸收光譜

    能夠用于實時光譜,厚度,折射率監(jiān)測

    系統(tǒng)附帶全面的光學常數(shù)數(shù)據(jù)庫和庫

    *軟件允許用戶為每個單獨的膠片使用NK表,色散或合成模型(EMA

    集成的視覺,光譜,模擬,膜厚測量系統(tǒng)

    適用于許多不同類型的基板,具有不同的厚度和尺寸

    深紫外線可以測量超薄膜的厚度及其帶隙

    2D3D輸出圖形用于映射功能和用戶友好的數(shù)據(jù)管理界面

    *成像軟件可進行尺寸測量,例如角度,距離,面積,顆粒計數(shù)等

    提供多種選項以滿足特殊應用

     

    系統(tǒng)配置:

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